Que ce soit dans l’émail dentaire ou dans les nanomatériaux à base de silicium, l’orientation de minuscules structures internes détermine souvent les propriétés d’un matériau. Une nouvelle méthode aux rayons X peut même rendre visible cet ordre nanométrique lorsque les structures sont en réalité trop petites pour être visualisées directement. La méthode a été développée par une équipe internationale dirigée par le Centre Helmholtz Hereon et ouvre de nouvelles possibilités pour étudier les matériaux et les structures biologiques. La recherche est publiée dans la revue Light : Science & Applications.